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產(chan) 品展示

  • X射線無損探傷

    X射線無損探傷(shang) 是一種利用X射線穿透物體(ti) 並通過檢測和分析所產(chan) 生的X射線圖像來評估物體(ti) 內(nei) 部結構和缺陷的技術。它可以用於(yu) 檢測材料中的裂紋、氣孔、夾雜物等缺陷,以及評估物體(ti) 的完整性和質量。

    更新時間:2023-09-14
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