X射線輻照儀的操作模式介紹

　　X射線輻照儀在輻照食品檢測領域是通用的方法，適用於檢測可以分離出矽酸鹽礦物質的食品。是由同相振蕩且互相垂直的電場與磁場在空間中以波的形式移動，其傳播方向垂直於電場與磁場構成的平麵，有效的傳遞能量和動量。電磁輻射按照頻率分類，從低頻率到高頻率，包括有無線電波、微波、紅外線、可見光、紫外光、X-射線和伽馬射線等等。
 

　　自然界中絕大多數的固體是晶體，而所有的晶體在空間結構上都有缺陷(晶格缺陷)。輻照使礦物晶體電離，產生遊離電子。一些遊離電子被較高能態的晶格缺陷捕獲後，成為陷獲電子儲存在陷阱中。積蓄的能量在加熱過程中以光的形成釋放出來的一種物理現象。這種現象是一次性的，也就是固體在受輻射作用後，隻有被加熱時才會有光被釋放出來。在以後的加熱過程中，除非重新再接受輻射作用，否則將不會有發光現象。X射線輻照儀正是利用晶體這一特性開發出的輻照食品檢測方法。
 

　　X射線輻照儀有兩種操作模式可以選擇：
 

　　1、篩查模式：根據設定好的閾值及時間參數，將樣品放入樣品室後隻需輕輕按一下測試按鈕，15秒即可給出結果。篩查模式無需連接電腦。非常適合對常規樣品的例行快速檢測。
 

　　2、與電腦連接使用：當與電腦連接使用時，可以通過軟件自定義測量參數(例如測量時間、閾值標準和數據記錄條件等等)，可以獲得樣品具體的光子計數，可以測定暗計數(無光刺激時樣品室的光子計數率)、空室計數(吳樣品時的計數率，以了解樣品室是否汙染)，以及光電倍增管靈敏度測試等等，並可以對篩查結果不確定的樣品進行校正測定等等。