X射線衍射儀技術是獲得材料信息的研究手段

　　

　　X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣，本質上都屬於電磁波，隻是彼此之間占據不同的波長範圍而已。X射線的波長較短，大約在10-8～10-10cm之間。X射線分析儀器上通常使用的X射線源是X射線管，這是一種裝有陰陽極的真空封閉管，在管子兩極間加上高電壓，陰極就會發射出高速電子流撞擊金屬陽極靶，從而產生X射線。當X射線照射到晶體物質上，由於晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互幹涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關不同的晶體物質具有自己*的衍射樣，這就是X射線衍射的基本原理。

　　

　　X射線衍射儀通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象，物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無汙染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。因此,X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法，已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。

　　

　　X射線衍射儀技術（XRD）注意事項

　　

　　（1）固體樣品表麵＞10×10mm，厚度在5μm以上，表麵必須平整，可以用幾塊粘貼一起。

　　

　　（2）對於片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優取向，衍射強度異常，需提供測試方向。

　　

　　（3）對於測量金屬樣品的微觀應力（晶格畸變），測量殘餘奧氏體，要求製備成金相樣品，並進行普通拋光或電解拋光，消除表麵應變層。

　　

　　（4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大於5g。