無損檢測中暗室處理常見缺陷的產生

暗室處理常見缺陷及其成因
1.1偽(wei) 缺陷
為(wei) 缺陷是指由於(yu) 透照操作或暗室操作不當，或由於(yu) 膠片、增感屏質量不好，在底片上留下非缺陷影像。常見的有以下幾種：劃痕、壓痕、折痕、水跡、靜電感光、顯影斑紋、顯影液沾染、定影液沾染、增感屏偽(wei) 缺陷等。隻有明確每一種為(wei) 缺陷的成因才能采取切實妥當的措施來避免其的產(chan) 生。
劃痕 ：膠片被尖銳物體(ti) (指甲、器具尖角、膠片尖角、砂粒等）劃過，在底片上留下的黑線。
壓痕 ：膠片局部受壓會(hui) 引起局部感光，從(cong) 而在底片上留下壓痕。
折痕 ：膠片受彎折，會(hui) 發生減感或增感效應，在底片上產(chan) 生白色或黑色影響。
水跡 ：由於(yu) 水質不好或底片幹燥處理不當，會(hui) 在底片上出現水跡。
靜電感光 ：切裝膠片時，因摩擦產(chan) 生的靜電發生放電現象使膠片感光，在底片上留下黑色影響。
顯影斑紋 ：由於(yu) 曝光過度，顯影液溫度過高、濃度過大導致快速顯影，或因顯影時攪動不及時，均會(hui) 造成顯影不均勻，從(cong) 而產(chan) 生顯影斑紋。
顯影液沾染 ：顯影操作開始前，膠片沾染了顯影液，沾上顯影液的部位提前顯影，黑度比其他部位大。
定影液沾染 ：顯影操作開始前，膠片沾染了定影液，沾上定影液的部位發生定影作用，使得該部位黑度小於(yu) 其他部位。
增感屏偽(wei) 缺陷 ：由於(yu) 增感屏的損壞或汙染使局部增感性能改變而在底片上留下的影響。如增感屏上的裂紋或劃傷(shang) 會(hui) 在底片上造成黑色影像，而增感屏上的汙物在底片上造成白色影像。
膠片上其他為(wei) 缺陷還有：因膠片質量不好或暗室處理不當引起的藥膜脫落、網紋、指印、汙染等，因膠片保存或使用不當造成的跑光、黴點等。