X射線探傷儀檢驗規程

X射線探傷(shang) 簡介  

射線探傷(shang) 是利用射線可以穿透物質和在物質中有衰減的特性來發現其中缺陷的一種無損探傷(shang) 方法。它可以檢查金屬和非金屬材料及其製品的內(nei) 部缺陷，如焊縫中的氣孔、夾渣、未焊透等體(ti) 積性缺陷。這種無損探傷(shang) 方法有*的*性，即檢驗缺陷的直觀性、準確性和可靠性，而且，得到的射線底片可用於(yu) 缺陷的分析和作為(wei) 質量憑證存檔。但此法也存在著設備較複雜、成本較高的缺點，並需要對射線進行防護。    

X射線的產(chan) 生  

用來產(chan) 生X射線的裝置是X射線管。它由陰極、陽極和真空玻璃（或金屬陶瓷）外殼組成，其簡單結構和工作原理如圖1所示。陰極通以電流加熱至白熾狀態時，其陽極周圍形成電子雲(yun) ，當在陽極與(yu) 陰極間施加高壓時，電子加速穿過真空空間，高速運動的電子束集中轟擊陽極靶子的一個(ge) 麵積（幾平方毫米左右、稱實際焦點），電子被阻擋減速和吸收，其部分動能（約1%）轉換為(wei) X射線,其餘(yu) 99%以上的能量變成熱能。

X射線的主要性質 

•不可見，以光速直線傳(chuan) 播。 

•具有可穿透可見光不能穿透的物質如骨骼、金屬等的能力，並且在物質中有衰減的特性。 •可以使物質電離，能使膠片感光，亦能使某些物質產(chan) 生熒光。   

γ射線的產(chan) 生及性質 

γ射線是由放射性物質（60Co、192Ir等）內(nei) 部原子核的衰變過程產(chan) 生的。 

γ射線的性質與(yu) X射線相似，由於(yu) 其波長比X射線短，因而射線能量高，具有更大的穿透力。例如，目前廣泛使用的γ射線源60Co，它可以檢查250mm厚的銅質工件、350mm厚的鋁製工件和300mm厚的鋼製工件。   

射線與(yu) 物質的相互作用 

當射線穿透物質時，由於(yu) 物質對射線有吸收和散射作用，從(cong) 而引起射線能量的衰減。 射線在物質中的衰減是呈負指數規律變化的，以強度為(wei) I0的一束平行射線束穿過厚度為(wei) δ的物質為(wei) 例，穿過物質後的射線強度為(wei) ： 

I=I0e－μδ 

式中： 

I：射線透過厚度δ的物質的射線強度； I0：射線的初始強度；